ГОСТ 28353.1-2017. Межгосударственный стандарт. Серебро. Методы атомно-эмиссионного анализа с дуговым возбуждением спектра

7.2 Средства измерений, вспомогательные устройства, материалы и реактивы

Спектрограф дифракционный с трехлинзовой системой конденсоров, предназначенный для получения спектров в диапазоне от 200 до 400 нм, с обратной линейной дисперсией от 0,6 до 0,7 нм/мм.

Весы по ГОСТ OIML R 76-1 с пределом допускаемой погрешности взвешивания не более +/- 0,003 г.

Генератор дуги переменного тока силой до 15 А.

Микроденситометр, предназначенный для измерения оптической плотности (почернения) спектральных линий.

Печь сопротивления.

Тигли из графита ос. ч.

Электроды графитовые ос. ч. по нормативно-технической документации <1> диаметром 6 мм, с кратером глубиной от 1 до 3 мм и диаметром 4 мм.

--------------------------------

<1> В Российской Федерации действуют ТУ 3497-001-51046676-01 "Графитовые электроды для эмиссионного спектрального анализа".

 

Электроды графитовые ос. ч. по нормативно-технической документации <2> диаметром 6 мм, заточенные на полусферу или усеченный конус.

--------------------------------

<2> В Российской Федерации действуют ТУ 6-43-00205133-54-95 "Фотопластинки фотографические спектрографические. Технические условия".

 

Фотопластинки фотографические спектрографические ПФС-03.

Проявитель контрастный и фиксаж для фотопластинок.

Плита электрическая с закрытой спиралью.

Стаканы химические термостойкие по ГОСТ 25336.

Тигель и чашка фарфоровая по ГОСТ 9147.

Кислота соляная ос. ч. по ГОСТ 14261, разбавленная 1:1.

Спирт этиловый ректификованный по ГОСТ 5962.

Вода дистиллированная по ГОСТ 6709.

Пинцет хирургический.

Ткань хлопчатобумажная по ГОСТ 29298.

Вата медицинская по ГОСТ 5556.

Бумага масштабно-координатная по ГОСТ 334.

Образцы для градуировки (образцы серебра с ранее установленными значениями массовой доли элементов).

Стандартные образцы состава серебра ГСО 7817 (комплект CH) или другие, не уступающие по составу и точности.

Допускается применение других средств измерений, вспомогательных устройств, материалов и реактивов при условии получения показателей точности, не уступающих указанным в таблице 1.