ГОСТ Р 56648-2015. Национальный стандарт Российской Федерации. База электронная компонентная для ракетно-космической техники. Входной контроль и дополнительные испытания. Общие положения

6 Входной контроль и дополнительные испытания электронной компонентной базы отечественного производства

 

6.1 Изделия ЭКБ ОП для штатных изделий ракетно-космической техники должны пройти с положительными результатами ВК и ДИ.

6.2 ВК и ДИ ЭКБ ОП проводят с целью выявления изделий, не соответствующих требованиям паспорта и (или) ТУ и (или) имеющих скрытые дефекты.

6.3 ЭКБ ОП, поставляемая на ВК и (или) ДИ, должна:

- относиться к одной партии;

- иметь сопроводительную документацию с обозначением нормативной и технической документации, требованиям которой она должна удовлетворять.

6.4 Проведение ВК ЭКБ ОП должно удовлетворять требованиям ГОСТ 24297.

6.5 ВК подвергаются все изделия ЭКБ из партии.

Примечание - В технически обоснованных случаях (например, при необходимости повторного проведения ВК, ДИ, и (или) поступлении большого объема партии ЭКБ, и (или) наличии малых габаритов у испытуемых изделий, и (или) отсутствии в ИЦ устройства для упаковывания малогабаритных изделий ЭКБ и пр.) по согласованию с Заказчиком допускается проведение ВК и (или) ДИ на выборке.

 

6.6 ДИ подвергаются все изделия ЭКБ, прошедшие ВК с положительными результатами, за вычетом выборки на РФА.

6.7 РФА подвергается выборка ЭКБ, прошедшая ВК с положительными результатами. Объем выборки ЭКБ на РФА должен быть достаточным для подтверждения качества партии изделий. Рекомендуемый объем выборки - не менее двух штук для диодов и реле, не менее четырех штук для транзисторов и микросхем. Приемка партии по результатам РФА осуществляется при C, равном нулю.

Внутренний визуальный контроль, входящий в состав РФА, проводят не менее чем на двух изделиях ЭКБ на соответствие требованиям нормативной и технической документации, действующей в ракетно-космической отрасли. Дополнительное изделие может быть использовано при условии случайного повреждения испытуемых изделий ЭКБ при подготовке и (или) проведении контроля, или в случае его неоднозначного результата.

6.8 ВК и (или) ДИ изделий ЭКБ проводятся на основе программы испытаний, которая предоставляется заказчиком или разрабатывается в ИЦ путем анализа требований ТЗ и действующих национальных стандартов в области испытаний (ГОСТ 20.57.406 и других).

6.9 В программу ВК и (или) ДИ следует включать:

- цель и задачи испытаний изделий ЭКБ;

- тип испытываемой ЭКБ (например, микросхема, диод и т.д.);

- объем выборки на РФА;

- условия, режимы, порядок, место, виды и этапы проведения испытаний;

- метрологическое обеспечение ВК и (или) ДИ;

- критерии отбраковки;

- объем отчетной документации;

- другие положения, позволяющие конкретизировать процедуру проведения ВК и (или) ДИ;

- приложения (при необходимости).

Форма составления программы ВК и (или) ДИ - произвольная.

6.10 Объем ВК, ДИ, который рекомендуется включать в программу испытаний для интегральных микросхем, микросборок и полупроводниковых приборов, представлен в таблице 1.

 

Таблица 1

 

Вид испытания	Наименование испытания
ВК	Контроль сопроводительной документации
	Проверка внешнего вида
	Сериализация (присвоение изделию ЭКБ индивидуального порядкового номера)
	Контроль электрических параметров и функционирования в нормальных климатических условиях
ДИ (в части неразрушающих испытаний)	Испытание на воздействие повышенной рабочей температуры среды
	Испытание на воздействие пониженной рабочей температуры среды
	Испытание на воздействие изменения температуры среды (термоциклирование)
	Контроль информативных параметров по ужесточенным нормам
	Электротермотренировка (термотренировка)
	Оценка дрейфа информативных параметров после проведения электротермотренировки
	Контроль свободно перемещающихся частиц внутри корпуса по уровню шума
	Контроль герметичности
ДИ (в части РФА)	Контроль качества маркировки
	Контроль содержания паров воды в подкорпусном пространстве
	Внутренний визуальный контроль
	Испытание сварных соединений на прочность
	Испытание выводов на воздействие растягивающей силы
	Испытание прочности кристалла на сдвиг
	Испытание на способность к пайке
	Растровая электронная микроскопия

 

6.11 Методики проведения ВК и (или) ДИ должны быть основаны на методах, удовлетворяющих требованиям 5.2.

6.12 Для каждой испытываемой партии изделий ЭКБ ОП должен оформляться в бумажном и (или) электронном виде маршрутный лист ВК и (или) ДИ в соответствии с программой ВК и (или) ДИ. Форма составления маршрутного листа ВК и (или) ДИ - произвольная.

6.13 В маршрутном листе ВК и (или) ДИ следует указывать:

- наличие наименования ЭКБ в утвержденном заказчиком перечне ЭКБ, разрешенной к применению;

- состав и последовательность конкретных видов испытаний;

- результаты проведения испытаний с указанием количества забракованных изделий;

- даты проведения испытаний, фамилии и подписи исполнителей (допускается применять электронные подписи исполнителей).

6.14 При проведении ВК и (или) ДИ всей партии ЭКБ забракованные изделия должны быть извлечены из партии, а остальные - признаны годными.

При проведении ВК и (или) ДИ на выборке из партии изделий ЭКБ в случаях, приведенных в 6.5 (см. примечание), следует включать в программу ВК и (или) ДИ нормы допустимого процента отказов (приемочные числа) для отбраковки партии. При превышении норм допустимого процента отказов (приемочных чисел) следует всю партию ЭКБ подвергнуть сплошному ВК и (или) ДИ, при этом все забракованные изделия должны быть извлечены из партии, а остальные - признаны годными.

6.15 По результатам проведения ВК и (или) ДИИЦ должен оформить Протокол испытаний для каждой партии ЭКБ. Форма протокола - произвольная.

6.16 В Протоколе испытаний следует указывать:

- реквизиты ИЦ (полное наименование, юридический и (или) фактический адреса, телефоны и (или) факсы), если ВК и (или) ДИ проводятся в ИЦ;

- наименование испытываемых изделий ЭКБ с указанием партии, даты изготовления и производителя;

- основания для проведения ВК и (или) ДИ (например, договор, решение);

- количество изделий ЭКБ, которые подвергались ВК и (или) ДИ;

- объем проведенных испытаний с указанием методов и условий их проведения;

- результаты проведения ВК и (или) ДИ;

- даты проведения конкретных видов испытаний;

- фамилии и подписи исполнителей.

6.17 По требованию заказчика ИЦ должен оформить заключение по ВК и (или) ДИ ЭКБ. В его состав должно входить:

- наименование программы ВК и (или) ДИ, на основании которой проводились испытания;

- сроки проведения испытаний;

- шифр и (или) наименование аппаратуры ракетно-космической техники, в которой будут применяться испытуемые изделия ЭКБ;

- тип испытуемых изделий ЭКБ (например, микросхема, резистор и др.), их наименование и производитель;

- количество изделий ЭКБ, которые подвергались ВК и (или) ДИ;

- номер маршрутного листа ВК и (или) ДИ;

- результаты проведения ВК и (или) ДИ (количество годных и бракованных изделий ЭКБ);

- фамилии и подписи исполнителей;

- другие положения, позволяющие конкретизировать процесс проведения ВК и (или) ДИ.

Примечание - Шифр и (или) наименование аппаратуры определяются заказчиком. Форма составления заключения по ВК и (или) ДИ - произвольная.

 

6.18 Если ВК и (или) ДИ проводились на выборке из партии изделий ЭКБ, то в технически обоснованных случаях (например, при отсутствии в ИЦ устройства для упаковывания малогабаритных изделий ЭКБ и (или) осуществлении монтажа испытываемой выборки ЭКБ на испытательную оснастку и пр.) данные изделия после проведения ВК и (или) ДИ к установке в аппаратуру ракетно-космической техники не допускаются и предоставляются заказчику только по его требованию.

6.19 При выявлении брака или некомплектности поставки изделий ЭКБИЦ составляет акт забракования. Проведение рекламационных работ осуществляется потребителем.